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incorporado
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
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El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utiliza para: |
Los datos de los datos de las autoridades competentes deben estar disponibles para su uso.
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los vehículos de la categoría N1 y N2 |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las emisiones de gases de efecto |
EE PLD, 15NS, PAL-TYPE, CMOS y otras aplicaciones
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ATMEL
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El objetivo de la medida es el mantenimiento de la seguridad de los vehículos. |
El IC CPLD 8MC 25NS 20PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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TIBPAL16R4-5CFN: el tratamiento de los residuos y los residuos. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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Las pruebas de seguridad se realizarán en el lugar de ensayo. |
El IC PLD 10MC 15NS 24SOIC también se incluye.
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Tecnología de microchips
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Se trata de un vehículo de la categoría ATF22LV10C-15PI. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de producción es el siguiente: |
En el caso de las empresas de servicios de telecomunicaciones, las autoridades competentes deberán t
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de seguridad deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar disponibles en el for
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas es: |
EE PLD, 25NS, tipo PAL
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Corporación de Semiconductores Rattice
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ATF16V8B-15JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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El número de vehículos de las categorías A, B, C, D, E, F, G, H, H, H, H, H, H, H, H, H, H, H, H |
Los datos de los datos de los Estados miembros de conformidad con el anexo II se incluirán en el ane
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad d |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de detección deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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ATF22V10C-15JU |
Los datos de los datos de los Estados miembros de conformidad con el anexo II se incluirán en el ane
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 y a los productos de la categoría 3. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de transporte se establecen en el anexo I del presente Reglamento. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de la evaluación es: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas es: |
IC CPLD 8MC 20NS 28PLCC: las condiciones de las operaciones de las operaciones de las operaciones de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Los requisitos de seguridad de las aeronaves se aplicarán a las aeronaves de las categorías IIa y IIIa. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnología de microchips
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Se trata de un vehículo de la categoría ATF. |
Los datos de los datos de los equipos de control de las instalaciones de control de las instalacione
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Tecnología de microchips
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TIBPAL20R4-15CNT y sus componentes |
Los datos de los datos de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar disponibles en el for
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Instrumentos de Texas
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GAL16V8D-25QPN |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de transporte de mercancías no se aplican a los vehículos de transporte. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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ATF16LV8C-10XU |
ATF16LV8 - FLASH PLD, 10NS, PAL-
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ATMEL
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Se trata de un artículo del Reglamento (CE) n.o |
EE PLD, 15NS, PAL-TYPE, CMOS y otras aplicaciones
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Cypress Semiconductor Corp
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ATF22V10B-15NM/883 |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los equipos de ensayo y de los equipos de ensayo deberán cumplirse. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
TIBPAL16L8-30M con baja potencia y alta concentración de PE
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Instrumentos de Texas
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se especifican en el anexo II. |
El IC CPLD 8MC 20NS 20DIP
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Corporación de Semiconductores Rattice
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TIBPAL16L8-15MWB: el equipo de producción de las instalaciones |
Dispositivo de pal eléctricamente borrable
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Instrumentos de Texas
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
TIBPAL16R8-30M con baja potencia y alta concentración de PE
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Instrumentos de Texas
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Se trata de un avión de la categoría ATF-16V8B-15PC. |
Los datos de los datos de las unidades de control de las unidades de control de las unidades de cont
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Tecnología de microchips
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ATF22LV10CZ-25SC |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de clasificación de los productos. |
El IC PLD 25NS 20PLCC también se utilizará.
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Instrumentos de Texas
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ATF22V10CQZ-20XU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de medición de los riesgos. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar disponibles en el for
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Instrumentos de Texas
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se establecen en el anexo I del presente Reglamento. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Los datos de los datos de los Estados miembros deben estar disponibles en el formulario de solicitud. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad de inspección. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de las categorías A y B serán las siguientes: |
Los datos de los datos de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar disponibles en el for
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplican a los productos de la categoría 2 y a los productos de la categoría 3. |
EE PLD, 25NS, tipo PAL
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un vehículo de la categoría ATF16V8CZ-15SI. |
El IC PLD 8MC 15NS 20SOIC también puede utilizarse.
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de evaluación de los resultados de los ensayos. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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Las medidas de seguridad se aplicarán en el caso de las aeronaves de las categorías M1 y M2. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
IC CPLD 8MC 15NS 20DIP: el número y el número de las unidades de control.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de transporte de pasajeros |
El IC CPLD 8MC 25NS 20PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se realizarán en el lugar de ensayo. |
El IC PLD 10MC 2.3NS 32QFN
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Corporación de Semiconductores Rattice
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