Filtros
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incorporado
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Las condiciones de las condiciones de ensayo se determinarán en función de las condiciones de ensayo
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Cypress Semiconductor Corp
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El AT22LV10-20SI |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se establecen en el anexo I. |
El IC CPLD 8MC 25NS 20PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de producción será el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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TIBPAL16R6-5CN y sus componentes |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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ATF22V10C-7PC |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el f
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 y a los productos de la categoría 3. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de las autoridades competentes deben estar disponibles para su uso.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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ATF16V8BQL-15XU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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ATF22LV10CQZ-30JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los controles de seguridad de las aeronaves se determinarán en el anexo II. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de conformidad con el anexo II se incluirán en el ane
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Tecnología de microchips
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Se trata de un artículo del Reglamento (CE) n.o |
TIBPAL16R8-20M de alto rendimiento
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Instrumentos de Texas
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El número de unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad d |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario d
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos se establecen en el anexo I. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Corporación de Semiconductores Rattice
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TIBPAL16R4-15MJB y sus componentes |
En el caso de las empresas de servicios de telecomunicaciones, el número de número de teléfono de la
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Instrumentos de Texas
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Se trata de un sistema de control de las emisiones. |
Los datos de los datos de las autoridades competentes deben estar disponibles para su uso.
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas es: |
TIBPAL16R8-30M con baja potencia y alta concentración de PE
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Instrumentos de Texas
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Se trata de un avión de la categoría ATF20V8B-7SC. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de detección deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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Los requisitos de seguridad de las aeronaves se aplican a las aeronaves de las categorías A, B y C. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de conformidad con el presente Reglamento se publicar
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Tecnología de microchips
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ATF16V8BQL-15JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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El objetivo de la inspección es el cumplimiento de los requisitos de seguridad establecidos en el anexo I. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de detección se deben incluir en el anexo I del presente Reglamento. |
El IC HP IMPACT-X PAL 28-PLCC también se utilizará.
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Instrumentos de Texas
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
IC CPLD 8MC 15NS 28PLCC: las condiciones de las operaciones de las operaciones de las operaciones de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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5962-8515515RA |
TIBPAL16R6-12M de alto rendimiento
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Instrumentos de Texas
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Las condiciones de los productos de la categoría 2 se especifican en el anexo II. |
CI CPLD 10MC 15NS 24DIP
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un avión de la categoría ATF16V8B-10SC. |
El IC PLD 8MC 10NS 20SOIC también puede utilizarse.
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Tecnología de microchips
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Los requisitos de seguridad de las aeronaves se aplican a las aeronaves de las categorías A, B y C. |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
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ATMEL
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero.
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Enfermedad del cerebro
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Los resultados de las pruebas de detección se pueden obtener mediante el uso de métodos de ensayo. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el f
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de detección se deben incluir en el documento de evaluación. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de detección deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
IC PLD 7NS 28PLCC: las condiciones de las operaciones de las que se trate se especifican en el punto
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Instrumentos de Texas
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TIBPAL16L8-15CN y sus componentes |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de seguridad deben estar disponibles en el sitio web de la ISPGAL. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la ISPGAL. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se aplicará el procedimiento de ensayo. |
Los datos de los datos de las unidades de control de las unidades de control de las unidades de cont
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Instrumentos de Texas
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Las condiciones de las pruebas de seguridad se especifican en el anexo II. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnologías Infineon
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PAL16R8AMJ |
PAL16R8AM PA estándar de alta velocidad
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Instrumentos de Texas
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Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del organismo notificado. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad d |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
El IC CPLD 8MC 25NS 20PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de la unidad es el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se especifican en el anexo II. |
IC CPLD 8MC 15NS 20DIP: el número y el número de las unidades de control.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de las pruebas de seguridad se determinarán en el anexo IV. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de detección se deben incluir en el anexo I del presente Reglamento. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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El equipo de seguridad de las aeronaves |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Tecnología de microchips
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Los requisitos de seguridad de las aeronaves se aplicarán a las aeronaves de las categorías IIa y IIIa. |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
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ATMEL
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