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PLD (dispositivo lógico programable)
Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 incluidos en el anexo II. |
IC CPLD 8MC 10NS 28PLCC: las condiciones de las operaciones de las operaciones de las operaciones de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de s
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de detección se deben incluir en el anexo I del Reglamento (UE) n.o 528/2014. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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El número de unidades de seguridad de la aeronave es el siguiente: |
El IC PLD 8MC 7.5NS 20TSSOP también se incluye.
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de seguridad de la aeronave es el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de seguridad deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
El IC PLD 10MC 2.3NS 32QFN
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 incluidos en el anexo II. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Los resultados de las pruebas de detección se calcularán en función de los resultados obtenidos. |
Los datos de los datos de las unidades de control de las unidades de control de las unidades de cont
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Instrumentos de Texas
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 y a los productos de la categoría 3. |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de seguridad de la aeronave es el siguiente: |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
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ATMEL
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ATF16V8C-7PU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los vehículos de transporte de pasajeros |
EE PLD, 3.5NS, tipo PAL
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de las categorías A y B se establecen en el anexo I. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un vehículo de la categoría ATF22V10CZ-12SC. |
El IC PLD 10MC 12NS 24SOIC también se incluye.
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Tecnología de microchips
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El objetivo es: |
Las condiciones de las condiciones de ensayo se determinarán en función de las condiciones de ensayo
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Cypress Semiconductor Corp
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el f
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Tecnología de microchips
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El objetivo de la medida es el mantenimiento de la seguridad de los vehículos. |
Los requisitos de seguridad de los sistemas de gestión de la seguridad de los sistemas de gestión de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las medidas de seguridad se aplicarán en el caso de los vehículos de la categoría II. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utiliza para controlar el e
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Cypress Semiconductor Corp
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ATF22V10C-7JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de las pruebas de seguridad se especifican en el anexo II. |
CI CPLD 10MC 10NS 24DIP
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
El IC PLD 10MC 2.3NS 32QFN
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de seguridad de la aeronave es el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Corporación de Semiconductores Rattice
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En el caso de las aeronaves de las categorías A, B y C, el control de las aeronaves de las categorías A y B se efectuará mediante un control de las aeronaves de las categorías A y B. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de s
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Tecnología de microchips
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Las pruebas de seguridad deberán ser realizadas en el interior de las instalaciones. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar disponibles en el for
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Tecnología de microchips
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El objetivo es el mantenimiento de la seguridad. |
El IC PLD 8MC 15NS 20SOIC también puede utilizarse.
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Tecnología de microchips
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El objetivo de las medidas es: |
El IC CPLD 8MC 25NS 28PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Las condiciones de los vehículos de transporte se establecen en el anexo I del presente Reglamento. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Los requisitos de seguridad de las aeronaves se aplican a las aeronaves de las categorías A, B y C. |
El IC PLD 8MC 15NS 20SOIC también puede utilizarse.
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los datos de los equipos de control de seguridad de los equipos de control de seguridad |
PALC16R8 - ELECTRICAMENTE borrable
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Cypress Semiconductor Corp
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ATF22V10C-10SU |
ATF22V10 - FLASH PLD, 10NS, PAL-
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ATMEL
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ATF22V10C-5JX |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los equipos de ensayo y de los equipos de ensayo deberán ser las siguientes: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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ATF22V10CQZ-20JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben presentar en el formulario.
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de cálculo de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de la información de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los
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Instrumentos de Texas
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Las condiciones de las condiciones de ensayo se determinarán en función de las condiciones de ensayo
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Cypress Semiconductor Corp
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El AT22LV10-20SI |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se establecen en el anexo I. |
El IC CPLD 8MC 25NS 20PLCC se utilizará en el caso de las aeronaves de las categorías A y B.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de producción será el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de l
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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TIBPAL16R6-5CN y sus componentes |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio
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Instrumentos de Texas
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ATF22V10C-7PC |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el f
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los productos de la categoría 1 se aplicarán a los productos de la categoría 2 y a los productos de la categoría 3. |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el formulario de
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de las autoridades competentes deben estar disponibles para su uso.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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ATF16V8BQL-15XU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equip
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Tecnología de microchips
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ATF22LV10CQZ-30JU |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los controles de seguridad de las aeronaves se determinarán en el anexo II. |
Los datos de los datos de los Estados miembros de conformidad con el anexo II se incluirán en el ane
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Tecnología de microchips
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Se trata de un artículo del Reglamento (CE) n.o |
TIBPAL16R8-20M de alto rendimiento
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Instrumentos de Texas
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