Filtros
Filtros
incorporado
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
10AX032H4F34I3LG |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
5SGXMABN3F45I3LG y sus componentes |
IC FPGA 840 I/O 1932FCBGA y el resto de los componentes
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El número de unidades de la unidad de producción será el número de unidades de producción.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 600 I/O 1152FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
5SGXEABK1H40I2G |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo y de los equipos de ensayo deberán estar disponibles
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3P600L-1PQ208 y sus componentes |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 154 I/O 208QFP
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
El IC FPGA 240 I/O 672FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo de la prueba de la velocidad. |
El IC FPGA 160 I/O 208QFP
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad de las unidades de seguridad. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FCBGA se utilizará para la obtención de datos de las instalaciones.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 488 I/O 780FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC FPGA 102 E/S 144TQFP
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Las medidas de seguridad se aplicarán a las instalaciones de los Estados miembros que no cumplan las
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo. |
El número de unidades de control de las unidades de control de las unidades de control de las unidad
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
EP3C40F324C6N |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
ENTRADA-SALIDA 1517FBGA DE IC FPGA 342
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo de la norma de la Unión Europea. |
El IC FPGA 700 I/O 1930FCBGA se utilizará en el caso de las máquinas de la serie FPGA.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un producto que se utiliza para la fabricación de productos químicos. |
El IC FPGA 413 I/O 780FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo de la prueba de velocidad. |
El IC FPGA 256 I/O 304PQFP
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
IC FPGA 396 I/O 1152FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3P250-FG144T, para el cual se utiliza el código A3P250-FG144. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 152 I/O 240QFP
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo de la prueba. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Las medidas de seguridad se aplicarán a las instalaciones de las categorías IIa y IIIa, y a las inst
|
Información
|
|
|
|
|
|
EP2S30F484C4 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de una serie de medidas de seguridad. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 98 I/O 144TQFP
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo. |
Los datos de los datos de las unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de
|
Información
|
|
|
|
|
|
XC6SLX4-2CPG196I |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero (FPGA) se utilizará en el caso
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
1SG280HN3F43I2VG |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
El IC FPGA 416 I/O 900FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
M1A3P250-1PQG208I, incluido el M1A3P250 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 140 I/O 176.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
AGL600V5-FGG256I |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 177.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
XA7A35T-1CSG324I |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 210 I/O.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El número de unidades de control de las unidades de control de las unidades de control de las unidad
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3P1000-FG256 en el avión de vuelo |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 177.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El objetivo de las medidas de seguridad es garantizar la seguridad de los vehículos. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de una serie de medidas de seguridad. |
IC FPGA 102 E/S 144TQFP
|
Información
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad deberán ser las siguientes: |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción será el número de unidades de producción. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de la unidad de control de la unidad de control de la unidad |
El IC FPGA 10 I/O 16WLCSP se utilizará para la obtención de los datos necesarios.
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|