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| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
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5SGSMD8K2F40C3G |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Información
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método siguiente: |
El IC FPGA 78 I/O 100TQFP
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Información
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EP2C70F896C6N |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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A54, SX08A-TQ100A |
El IC FPGA 81 I/O 100TQFP
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Información
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M2GL010-VFG400I: el número de unidades de producción y el número de unidades de producción. |
El IC FPGA 195 I/O 400VFBGA
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de clasificación de los productos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
ENTRADA-SALIDA 256FTBGA DE IC FPGA 206
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Corporación de Semiconductores Rattice
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XC6VLX195T-1FFG1156C |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Enfermedad del cerebro
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A3PN020-QNG68: las condiciones de los vehículos de transporte |
Los datos de los datos de las unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método siguiente: |
El número de unidades de la unidad de producción será el número de unidades de producción.
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Información
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases. |
El IC FPGA 488 I/O 780FBGA
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Información
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M2GL010T-VFG256 |
El IC FPGA 138 I/O 256FBGA
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Tecnología de microchips
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5SGSMD5K3F40C3G |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Información
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5SEEBH40I3Nueva York |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
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Información
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Se aplicará el método de evaluación de la calidad. |
FPGA, 784 CLBS, 186000 GATES y otras agencias
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El número de unidades de producción de los vehículos de la categoría M1 es el siguiente: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación de Semiconductores Rattice
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10AX066K3F40I2SG |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Información
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A40MX02-1PL68M: el número de unidad |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 278 I/O 484FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se aplicará el método de evaluación de la calidad de los productos. |
El IC FPGA 189 I/O 240QFP
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Información
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A3P600-1FGG484 y sus componentes |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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M7AFS600-1PQ208I: el uso de la tecnología de la información |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 95 I/O 208QF
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Corporación Microsemi
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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El número de unidades de producción será el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Información
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M2GL010T-1VFG400I: el número de unidades de la unidad |
El IC FPGA 195 I/O 400VFBGA
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Tecnología de microchips
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El valor de las emisiones de CO2 es el valor de las emisiones de CO2 de los combustibles fósiles. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Enfermedad del cerebro
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Se trata de un producto que se utiliza para la fabricación de productos químicos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
ENTRADA-SALIDA 132CSBGA DE IC FPGA 104
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Corporación de Semiconductores Rattice
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M2GL150TS-FC1152I: el número de unidades de producción de las que se trate es el siguiente: |
El número de unidades de producción será el siguiente:
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Tecnología de microchips
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El IC FPGA 68 I/O 100VQFP
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Enfermedad del cerebro
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Se incluyen los siguientes elementos: |
IC FPGA 346 I/O 484UBGA
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Información
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A3P030-1QNG68I. No se puede hacer nada. |
Los datos de los datos de las unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de
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Tecnología de microchips
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A3P250L-1VQG100 |
El IC FPGA 68 I/O 100VQFP
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Corporación Microsemi
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El número de unidades de producción es el número de unidades de producción. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio web del fabric
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Corporación de Semiconductores Rattice
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XC7A100T-2FGG676C |
ENTRADA-SALIDA 676FBGA DE IC FPGA 300
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Enfermedad del cerebro
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
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Información
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M1A3P600-2PQG208I, incluido el M1A3P600 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 154 I/O 208QFP
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Tecnología de microchips
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XC7A200T-2SBG484C |
El número de unidades de producción será el siguiente:
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Enfermedad del cerebro
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5SGXMB5R1F40I2G |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Información
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El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo y de los equipos de ensayo deberán estar disponibles
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Información
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LFE5UM5G-25F-8BG381I |
Los datos de los datos de las operaciones de los Estados miembros de la Unión Europea deben estar di
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Enfermedad del cerebro
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El número de unidades de producción será el siguiente: |
El IC FPGA 101 I/O 160QFP
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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Se aplicará el método de evaluación de la calidad. |
El IC FPGA 81 I/O 100TQFP
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Información
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
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Información
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XC6SLX16-2CSG225I |
ENTRADA-SALIDA 225CSBGA DE IC FPGA 160
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Enfermedad del cerebro
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Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de ensayo deberán estar disponibles en el
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Corporación de Semiconductores Rattice
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