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FPGA (matriz de puertas programables en campo)
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
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APA750-FG896I: las condiciones de los vehículos de las categorías A y B. |
Las medidas de seguridad se aplicarán a las instalaciones de seguridad.
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Tecnología de microchips
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APA1000-BG456I: el valor de las emisiones de CO2 de las instalaciones |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de producción de las que se trate será el siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Información
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10M02SCE144C8G |
ENTRADA-SALIDA 144EQFP DE IC FPGA 101
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Información
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El número de unidades de producción será el siguiente: |
El IC FPGA 240 I/O 484UBGA
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Información
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XC6SLX100T-3CSG484C |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Enfermedad del cerebro
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Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
El IC FPGA 600 I/O 1152FBGA
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Información
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A3PE3000L-FG484I: las pruebas de seguridad de los vehículos de las categorías A3 y A4 |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Tecnología de microchips
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 413 I/O 780FBGA
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Información
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Las condiciones de las partidas 1 y 2 se aplicarán a las partidas 2 y 3 del presente anexo. |
El IC FPGA 284 I/O 780FBGA
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Información
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XC6SLX100-3CSG484I |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Enfermedad del cerebro
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LCMXO2-2000HC-4TG100C |
El IC FPGA 79 I/O 100TQFP
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El objetivo de las medidas de seguridad es garantizar la seguridad de los vehículos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación de Semiconductores Rattice
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A54, SX16A-1PQG208 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
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Información
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EP1K30TC144-1N |
IC FPGA 102 E/S 144TQFP
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Información
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
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Corporación de Semiconductores Rattice
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M7A3P1000-1PQG208 y sus componentes |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 154 I/O 208QFP
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Tecnología de microchips
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Se aplicarán los siguientes requisitos: |
El IC FPGA 170 I/O 325FPGA
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Tecnología de microchips
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Se aplicarán los siguientes requisitos: |
El IC FPGA 182 I/O 256FBGA
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Información
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EP20K300EFI672-3 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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Se aplicará el método de evaluación de la calidad de los productos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de la unidad de producción será el número de unidades de producción.
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Enfermedad del cerebro
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ICE40UL1K-CM36AITR |
El IC FPGA 26 I/O 36UCBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero se calculará en función de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Enfermedad del cerebro
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A1010B-2PQG100I: el número de unidades de producción y el número de unidades de producción. |
El IC FPGA 57 I/O 100QFP
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Corporación Microsemi
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Información
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Información
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5SGXMA3H3F35C3N |
El IC FPGA 600 I/O 1152FBGA
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Información
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Información
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M1AFS250-PQG208 Las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades de las unidades |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación Microsemi
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A3PE600-2FGG484I |
El IC FPGA 270 I/O 484FBGA
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el procedimiento de ensayo de la norma de calidad. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 1120 I/O 1760FBGA
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Información
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XC6VSX475T-1FFG1156I |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Enfermedad del cerebro
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 215 I/O.
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Información
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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M2GL090TS-FG484I: el número de unidades de producción y el número de unidades de producción. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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XCS30-3VQ100C |
El IC FPGA 77 I/O 100VQFP
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Enfermedad del cerebro
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El IC FPGA 498 I/O 900FBGA
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Enfermedad del cerebro
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Las condiciones de los requisitos de la presente Directiva se aplicarán a las empresas que: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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A3PN060-1VQ100I: el número de unidades de producción y el número de unidades de producción. |
El IC FPGA 71 I/O 100VQFP
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Tecnología de microchips
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EP20K600EFI672-3 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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A54SX08-1VQ100I: el valor de las emisiones de CO2 es el valor de las emisiones de CO2 de los vehículos. |
El IC FPGA 81 I/O 100VQFP
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Corporación Microsemi
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Los requisitos de seguridad de los sistemas de control de velocidad se aplicarán a los sistemas de control de velocidad. |
El IC FPGA 240 I/O 672FBGA
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Información
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Se trata de una prueba de la eficacia de los medicamentos. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Información
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XC6SLX100-L1CSG484I |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
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Enfermedad del cerebro
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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El LCMXO2-1200ZE-1UWG25ITR |
El IC FPGA 18 I/O 25WLCSP se utilizará para la obtención de datos de las instalaciones.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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