Filtros
Filtros
FPGA (matriz de puertas programables en campo)
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
LIFCL-17-7BG256C |
El número de unidades de producción será el siguiente:
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
APA600-FG256: las pruebas de seguridad de los vehículos |
ENTRADA-SALIDA 256FBGA DE IC FPGA 186
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicarán los siguientes requisitos: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de clasificación de las emisiones. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
El objetivo de la medida es garantizar que los datos de las personas afectadas no sean objeto de un procedimiento de detección. |
El IC FPGA 28 I/O 36WLCSP se utilizará para la obtención de los datos de las instalaciones.
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
M1AGL1000V2-CS281 y sus componentes |
IC FPGA 215 I/O 281CSP
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
A3P1000-FGG256 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 177.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
M1AFS1500-2FGG484I. El objetivo de las medidas de seguridad es: |
El IC FPGA 223 I/O 484FBGA
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
5SGXEA3K3F35I3LN |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de las máquinas de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
El IC FPGA 240 I/O 672FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de cálculo de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de producción será el siguiente:
|
Información
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
A54SX16-1VQ100 |
El IC FPGA 81 I/O 100VQFP
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad deberán cumplirse en todos los casos. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad deberán cumplirse en todos los casos. |
El IC FPGA 416 I/O 900FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 278 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
5CEBA9U19C7N |
El IC FPGA 240 I/O 484UBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de control. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
ENTRADA-SALIDA 676FCBGA DE IC FPGA 404
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
A54SX16A-FG144M: el número de unidad |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
El objetivo de las medidas de seguridad es: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de ensayo deberán estar disponibles en el
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
XC3S1200E-4FTG256C |
El IC FPGA 190 I/O 256FTBGA se utilizará en el caso de los dispositivos de alta velocidad.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 500 I/O 900FCBGA se utilizará en el caso de las máquinas de la categoría M3
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método siguiente: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
XC7A200T-1FFG1156C |
El número de unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de la unidad de con
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en el caso de los equipos de ensayo. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC FPGA ARTIX UP 784FCBGA y sus componentes
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
El IC FPGA STRATIX10GX 1152FBGA también se utilizará en el caso de los circuitos FPGA.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de clasificación de los productos. |
El número de unidades de producción será el siguiente:
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a las empresas de servicios de telecomunicaciones de los Estados miembros. |
El IC FPGA 184 I/O 240RQFP
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de clasificación de los vehículos de las categorías A y B. |
El IC FPGA 720 I/O 1152FCBGA se utilizará para la obtención de los datos de las instalaciones.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2. |
El IC FPGA 171 I/O 256FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo de la prueba. |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicarán los siguientes requisitos: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del organismo notifi
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
XC6SLX45-2FGG484I |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
XC7A15T-2CSG325I |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
M1A3PE3000-1FG484 y sus componentes |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
M1AGL250V2-FG144 y sus componentes |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Tecnología de microchips
|
|
|