Filtros
Filtros
FPGA (matriz de puertas programables en campo)
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo. |
El IC FPGA 170 I/O 256FTBGA
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
XC7S50-2CSGA324C |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 210 I/O.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 190 I/O 256FTBGA se utilizará en el caso de los dispositivos de alta velocidad.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de CO2 de las instalaciones de combustión interna de las que se trate se calculará en función de las emisiones de CO2 de las instalaciones de combustión interna. |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicarán los siguientes requisitos: |
El IC FPGA 240 I/O 484FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades |
El IC FPGA 380 I/O 672FPBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
AX500-1PQG208 y sus derivados |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 115 I/O 208Q
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
XC4VSX55-11FFG1148I |
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de l
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad deberán cumplirse en todos los casos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Las medidas de seguridad se aplicarán a las instalaciones de seguridad de los Estados miembros.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en todos los casos. |
IC FPGA 768 I/O 1932FCBGA y el resto de los componentes
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de transporte de los vehículos no incluidos |
El IC FPGA 114 I/O 144LQFP
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
A42MX09-VQ100 |
El IC FPGA 83 I/O 100VQFP
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de la serie A será el número de unidades de la serie A. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 295 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 400 I/O.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad de los Estados miembros son las siguientes: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
5SGSMD8K3F40C3N |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
LCMXO3L-6900C-6BG324C |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
A1415A-1VQG100M |
El IC FPGA 80 I/O 100VQFP
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
A40MX04-1PLG44: las condiciones de los vehículos de las categorías A y B. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplican las siguientes condiciones: |
IC FPGA 346 I/O 484FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad deberán ser las siguientes: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 112 I/O 208Q
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
1SG250HN3F43E3VG |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de la unidad de control de la unidad de control de la unidad |
El IC FPGA 72 I/O 100VQFP
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
5SGSMD8N3F45I3N |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
XC3S200AN-4FTG256I |
El IC FPGA 195 I/O 256FTBGA
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de una prueba de la eficacia de los medicamentos. |
El IC FPGA 189 I/O 240RQFP
|
Información
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
|
Información
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de l
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo de los equipos de ensayo. |
El IC FPGA 201 I/O 256FTBGA se utilizará en el caso de los dispositivos de alta velocidad.
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de la unidad de producción será el número de unidades de producción. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
El objetivo de las medidas de seguridad es garantizar la seguridad de los vehículos. |
El IC FPGA 278 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
EP4CE6E22I7N |
ENTRADA-SALIDA 144EQFP DE IC FPGA 91
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 141 I/O 208QFP
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
M7AFS600-1PQG208I: el número de unidades de seguridad de las que se trate. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 95 I/O 208QF
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
A3P600-1PQG208I. El equipo de seguridad de las aeronaves |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 154 I/O 208QFP
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los productos de las categorías IIa y IIIa. |
IC FPGA 976 I/O 1517HBGA, incluidas las instrucciones de acceso a la red
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo de los datos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3PE3000L-1FG484 y sus componentes |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
A3P250-1FGG256I. El equipo de la A3P250-1FGG256 |
El IC FPGA 157 I/O 256FBGA
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
ENTRADA-SALIDA 256FTBGA DE IC FPGA 206
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
XCKU15P-2FFVE1760E |
El número de unidades de la unidad de producción será el siguiente:
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en el anexo I del presente Reglamento. |
El IC FPGA 62 I/O 100TQFP
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
5SGXEA3K2F35I3 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de l
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
10AX048H4F34I3SG |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|