Filtros
Filtros
incorporado
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
|
LCMXO2-1200HC-4TG100I |
El IC FPGA 79 I/O 100TQFP
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
5SGXEA3K2F40I3LN |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
XC2S200-5FG456C |
El IC FPGA 284 I/O 456FBGA
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
5SGSMD8N3F45C3G |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
5AGXFA7H4F35C4G |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
XC5VLX50T-1FF665C |
El IC FPGA 360 I/O 665FCBGA
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
5SGXEABK2H40C2G |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de una prueba de la complejidad de los productos. |
El IC FPGA 290 I/O 484FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
APA600-FGG256I: el número de unidades de producción |
ENTRADA-SALIDA 256FBGA DE IC FPGA 186
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El objetivo de las medidas de seguridad es garantizar la seguridad de los vehículos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de ensayo de la prueba. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
El IC FPGA 300 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El IC FPGA 480 I/O 1136FCBGA se utilizará en el caso de las máquinas de la categoría M3
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
XC7K160T-1FFG676I |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 400 I/O.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
XC7A35T-L1CPG236I |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de los sistemas de seguridad
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción es el número de unidades de producción. |
El número de unidades de control de las unidades de control de las unidades de control de las unidad
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
5SGSMD8K2F40C2N |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL025T-1VF400I: el número de unidades de seguridad de las que se trate. |
El IC FPGA 207 de entrada y salida 400VFBGA
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
A42MX36-FPQG240: el número de unidades de producción y el número de unidades de producción. |
El IC FPGA 202 I/O 240QFP
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
El objetivo de la prueba es determinar si el producto es compatible con el mercado. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 40 I/O 48QFN
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
5AGZME3E2H29I3LN |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 222 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
El IC FPGA 300 I/O 900FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
M1A3P250-2VQ100I, también conocido como M1A3P250-2VQ100I |
El IC FPGA 68 I/O 100VQFP
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
A40MX04-3PL44: las condiciones de las mismas son las siguientes: |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en el caso de los equipos de ensayo. |
El IC FPGA 360 I/O 780FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
APA450-FG256I: el número de unidades de producción de las que se trate |
ENTRADA-SALIDA 256FBGA DE IC FPGA 186
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 600 I/O 1760FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3PE3000L-1FGG484M, para el cual se utiliza el sistema de control de velocidad. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de los datos de las unidades de control de la unidad de control de la unidad de control de
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de una prueba de la eficacia de los medicamentos. |
El IC FPGA 150 I/O 324FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL005S-1VF400 |
El sistema de control de velocidad de la unidad FPGA 169 I/O será el siguiente:
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 380 I/O 672FPBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción es el número de unidades de producción. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del organismo notifi
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de la categoría M1 y M2. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
LCMXO2-4000HC-5FTG256I |
ENTRADA-SALIDA 256FTBGA DE IC FPGA 206
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|