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| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
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![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
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El número de unidades de producción es el número de unidades de producción. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se aplicará el método de evaluación de la calidad de los productos. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Información
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Las medidas de seguridad se aplicarán a las aeronaves de las categorías M1 y M2. |
El IC FPGA 416 I/O 900FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del organismo notifi
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Enfermedad del cerebro
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5SGSMD3H3F35C2LG |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Información
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5SGXEA7H2F35I3L |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Información
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LFE2-6E-6FN256I |
El IC FPGA 190 I/O 256FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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A3PN125-VQG100I |
El IC FPGA 71 I/O 100VQFP
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
El IC FPGA 81 I/O 100TQFP
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Información
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El número de unidades de producción es el número de unidades de producción. |
El IC FPGA 222 I/O 484FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 176 I/O 256FBGA
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Enfermedad del cerebro
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M1A3PE1500-FGG484 y sus componentes |
El IC FPGA 280 I/O 484FBGA
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Tecnología de microchips
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 488 I/O 780FBGA
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Información
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Los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo deberán cumplirse en el caso de los equipos de ensayo. |
IC FPGA 768 I/O 1932FCBGA y el resto de los componentes
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Información
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XC6SLX4-3CPG196I |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Enfermedad del cerebro
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
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Información
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El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 26 I/O 36WLCSP se utilizará en el caso de los equipos de la serie A.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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M7AFS600-FGG484 Las condiciones de las condiciones de trabajo de los equipos de ensayo y de los equipos de ensayo |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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ICE40HX4K-TQ144 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 195 I/O 256FTBGA
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Enfermedad del cerebro
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
El IC FPGA 82 I/O 100QFP
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Enfermedad del cerebro
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EP1K10TC144-2 |
Los datos de los datos de los equipos de control de seguridad deberán estar disponibles en el formul
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Información
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Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los s |
El IC FPGA 300 I/O 484FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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XC5204-6VQ100C |
El IC FPGA 81 I/O 100VQFP
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Enfermedad del cerebro
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 633 I/O 900FBGA
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Enfermedad del cerebro
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Los datos de las pruebas de seguridad deben estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Corporación de Semiconductores Rattice
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M2GL010-VF256 El número y el número de unidades |
El IC FPGA 138 I/O 256FBGA
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Tecnología de microchips
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El objetivo de la medida es garantizar que los productos estén protegidos. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Corporación de Semiconductores Rattice
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EP3SL110F1152I4N |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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XC6SLX150-3FG900I |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Enfermedad del cerebro
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A54SX16A-PQG208M: el número de unidades de producción de las que se trate. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Tecnología de microchips
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Se trata de un producto que se utiliza para la fabricación de productos químicos. |
El IC FPGA 488 I/O 780FBGA
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Información
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El objetivo de la medida es garantizar que los vehículos de las categorías A y B no se vean afectados. |
ENTRADA-SALIDA 256FBGA DE IC FPGA 178
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Tecnología de microchips
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Se aplicará el método de clasificación de los productos. |
El IC FPGA 175 I/O 383MBGA
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Información
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
ENTRADA-SALIDA 780FBGA DE IC FPGA 364
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Información
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5SGXEA7N2F40I2WN |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
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Información
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5CEFA2F23C8N |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Información
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LCMXO3LF-2100E-5MG256C |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Corporación de Semiconductores Rattice
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A3PE3000-1FG484 y sus componentes |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
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Tecnología de microchips
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El número de unidades de producción será el siguiente: LFE2-20E-6FN256 |
El IC FPGA 193 I/O 256FBGA
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Corporación de Semiconductores Rattice
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
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Información
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EP3C16F484I7N |
IC FPGA 346 I/O 484FBGA
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Información
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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
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Información
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M1A3P250-1VQG100I, también conocido como M1A3P250-1VQG100I |
El IC FPGA 68 I/O 100VQFP
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Tecnología de microchips
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Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
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Tecnología de microchips
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
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Información
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
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Enfermedad del cerebro
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