Filtros
Filtros
incorporado
| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Las existencias | Cuadros de trabajo | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
|
Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
1ST110EN1F43I2LG |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo de la norma ISOFIX. |
FPGA, 256 CLBS, 12300 Puertas
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo. |
El IC FPGA 331 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
El IC FPGA 600 I/O 1517FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
5AGZME3E3H29I4N |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad de ensayo. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 113 I/O 144
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un producto que se utiliza para la fabricación de productos químicos. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
|
Información
|
|
|
|
|
|
A42MX16-FTQG176 Las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 140 I/O 176.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se trata de un producto que se utiliza para la fabricación de productos químicos. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
5SGXEB9R2H43I2LG |
El IC FPGA 600 I/O 1760HBGA se utilizará para la obtención de datos de las unidades de control.
|
Información
|
|
|
|
|
|
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción. |
El IC FPGA 363 I/O 484FBGA
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
EP2C8Q208I8N |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 138 I/O 208Q
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de una prueba de detección. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad comp
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de evaluación de la calidad de los productos. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el formulario de solicitud.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web de la autoridad competente. |
El IC FPGA 73 I/O 100TQFP
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento siguiente: |
Las medidas de seguridad se aplicarán en el caso de los vehículos de las categorías M1 y M2.
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL010S-1FG484I. El número de unidades de la serie M2GL010S-1FG484 |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FP
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de la categoría M1 y M2. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el procedimiento de ensayo de la norma ISO/IEC 17025 para las mediciones de la calidad. |
El IC FPGA 196 I/O 324FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL150T-FCG1152I |
El número de unidades de producción será el siguiente:
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC FPGA 832 I/O 1924FCBGA, que se encuentra en el punto de encuentro
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
5SGSMD3H3F35I3G |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de seguridad de las instalaciones de segu
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
ENTRADA-SALIDA 780FBGA DE IC FPGA 364
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 205 I/O 256BGA
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el sitio web del fabricante.
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
El número de unidades de producción de las unidades de producción de las unidades de producción de l
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los sistemas de seguridad de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de seguridad de los sistemas de segur |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
El IC FPGA 372 I/O 1152FBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL005S-1VFG256 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 161 I/O.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Los requisitos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad. |
Los datos de los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponible
|
Información
|
|
|
|
|
|
M7AFS600-1PQG208 Las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el IC FPGA 95 I/O 208QF
|
Corporación Microsemi
|
|
|
|
|
|
A42MX16-1TQG176 Las pruebas de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad de los equipos de seguridad |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 140 I/O 176.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
EP2C35F484C7N |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|
|
|
|
Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Corporación de Semiconductores Rattice
|
|
|
|
|
|
El valor de los valores de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero de los gases de efecto invernadero. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
5SGSMD4E2H29C1WN |
El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las
|
Información
|
|
|
|
|
|
EP20K1000EBC652-3 y el resto de los componentes |
Las medidas de seguridad se aplicarán a las instalaciones de los Estados miembros que no cumplan los
|
Información
|
|
|
|
|
|
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. |
IC FPGA 920 I/O 1932FCBGA
|
Información
|
|
|
|
|
|
M2GL005S-1FGG484 |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
5SGXMABK3H40I4N |
IC FPGA 696 I/O 1517HBGA, incluido el código de conducción
|
Información
|
|
|
|
|
|
A3PN010-1QNG48: las condiciones de los productos y servicios |
El IC FPGA 34 I/O 48QFN
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplicará el método de clasificación de los vehículos de las categorías A y B. |
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de ensayo deberán estar disponibles en el
|
Enfermedad del cerebro
|
|
|
|
|
|
M1A3PE3000L-1FG484M, para el cual se utiliza el sistema de control de velocidad. |
El número de unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de carga de las unidades de
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
M1A3P1000-1FGG256I, incluido el M1A3P1000 |
Los datos de las pruebas de seguridad deberán estar disponibles en el IC FPGA 177.
|
Tecnología de microchips
|
|
|
|
|
|
Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2. |
Los datos de los datos de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formulario de solici
|
Información
|
|
|