Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo.
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
fabricante:
Corporación de Semiconductores Rattice
Descripción:
El número de unidad de control será el número de unidad de control.
Categoría:
incorporado
Especificaciones
Categoría:
Circuitos integrados (ICs)
Integrado
FPGAs (arsenal de puerta programable del campo)
Número de LAB/CLB:
6250
Estado del producto:
No está disponible
Tipo de montaje:
Montura de la superficie
Paquete:
Envases
Serie:
SCM
Número de elementos/células lógicas:
25000
Paquete de dispositivos del proveedor:
Las partidas de los componentes de las máquinas de ensayo de alta precisión se clasifican en la cate
Total de bits de la RAM:
1966080
El Sr.:
Corporación de Semiconductores Rattice
Temperatura de funcionamiento:
0 °C ~ 85 °C (TJ)
Voltagem - Suministro:
0.95V ~ 1.26V
DigiKey es programable:
No verificado
Número de entradas/salidas:
476
Envase / estuche:
1020-BBGA, FCBGA
Número del producto de base:
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo I
Introducción
El sistema de control de velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de al
Envíe el RFQ
Las existencias:
Cuota de producción: