Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo se deben incluir en la lista de pruebas de ensayo.
![calidad [#varpname#] fábrica](/images/load_icon.gif){kind=icon}
fabricante:
Corporación de Semiconductores Rattice
Descripción:
Los datos de las pruebas de seguridad de las instalaciones de ensayo deberán estar disponibles en el
Categoría:
incorporado
Especificaciones
Categoría:
Circuitos integrados (ICs)
Integrado
FPGAs (arsenal de puerta programable del campo)
Número de LAB/CLB:
20000
Estado del producto:
No está disponible
Tipo de montaje:
Montura de la superficie
Paquete:
Envases
Serie:
SCM
Número de elementos/células lógicas:
80000
Paquete de dispositivos del proveedor:
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de ef
Total de bits de la RAM:
5816320
El Sr.:
Corporación de Semiconductores Rattice
Temperatura de funcionamiento:
0 °C ~ 85 °C (TJ)
Voltagem - Suministro:
0.95V ~ 1.26V
DigiKey es programable:
No verificado
Número de entradas/salidas:
660
Envase / estuche:
Se aplicarán los siguientes requisitos:
Número del producto de base:
Se aplicará el procedimiento siguiente:
Introducción
El sistema de control de velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la red de alta velocidad de la
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